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  • NS200高精度探針式輪廓儀
    NS200高精度探針式輪廓儀

    NS系列高精度探針式輪廓儀單拱龍門式設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性好,而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動(dòng)噪音對(duì)測(cè)量信號(hào)的影響,提高了測(cè)量精度。其采用LVDC電容傳感器,具有的亞埃級(jí)分辨率和超微測(cè)力等特點(diǎn)。

    時(shí)間:2024-12-10型號(hào):NS200訪問(wèn)量:29
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  • VT6100自動(dòng)三維共聚焦顯微鏡
    VT6100自動(dòng)三維共聚焦顯微鏡

    VT6000自動(dòng)三維共聚焦顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和優(yōu)異的3D重建算法,共同組成測(cè)量系統(tǒng),用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量,可測(cè)各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時(shí)間:2024-12-06型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:69
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  • CEM3000中圖高分辨率鎢燈絲掃描電鏡
    CEM3000中圖高分辨率鎢燈絲掃描電鏡

    中圖高分辨率鎢燈絲掃描電鏡CEM3000系列是一款用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析的緊湊型設(shè)備。其抗振設(shè)計(jì),在充滿機(jī)械振動(dòng)和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山,拍攝出清晰、高分辨率的圖像。

    時(shí)間:2024-12-06型號(hào):CEM3000訪問(wèn)量:59
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  • CEM3000一鍵臺(tái)式掃描電鏡
    CEM3000一鍵臺(tái)式掃描電鏡

    CEM3000一鍵臺(tái)式掃描電鏡是一款用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析的緊湊型設(shè)備。其操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便,樣品一鍵裝入,自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度)幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像,大大提升了使用效率。

    時(shí)間:2024-12-04型號(hào):CEM3000訪問(wèn)量:188
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  • NS200微納樣品臺(tái)階測(cè)量?jī)x
    NS200微納樣品臺(tái)階測(cè)量?jī)x

    NS系列微納樣品臺(tái)階測(cè)量?jī)x能夠測(cè)量納米到330μm或1050μm的臺(tái)階高度,可以準(zhǔn)確測(cè)量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測(cè)量精度和測(cè)量重復(fù)性。

    時(shí)間:2024-12-02型號(hào):NS200訪問(wèn)量:96
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  • VT6100共聚焦三維表面形貌測(cè)量顯微鏡
    VT6100共聚焦三維表面形貌測(cè)量顯微鏡

    VT6000共聚焦三維表面形貌測(cè)量顯微鏡用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量,可測(cè)各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時(shí)間:2024-11-28型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:115
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  • SuperViewW1白光干涉微納米三維形貌一鍵測(cè)量?jī)x
    SuperViewW1白光干涉微納米三維形貌一鍵測(cè)量?jī)x

    SuperViewW白光干涉微納米三維形貌一鍵測(cè)量?jī)x基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,單一掃描模式即可滿足從超光滑到粗糙、鏡面到全透明或黑色材質(zhì)等所有類型樣件表面的測(cè)量。

    時(shí)間:2024-11-28型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:113
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  • CEM3000高易用性臺(tái)式掃描電鏡
    CEM3000高易用性臺(tái)式掃描電鏡

    CEM3000系列高易用性臺(tái)式掃描電鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析,操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便,樣品一鍵裝入,自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度)幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像,大大提升了使用效率。

    時(shí)間:2024-11-28型號(hào):CEM3000訪問(wèn)量:99
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